SY/T 7410.2-2020 巖石三維孔隙結構測定方法 第2部分：聚焦離子束切片法 3D pore structure characterization of rocks- Part 2: FIB-SEM method

SY/T7410的本部分規定了聚焦離子束切片技術(shù)測定巖石三維孔隙結構的方法及質(zhì)量要求。
本部分適用于巖石樣品的微一納米級孔隙結構分析。Y/T 7410.2-2020 巖石三維孔隙結構測定方法 第2部分：聚焦離子束切片法 3D pore structure characterization of rocks- 　　　　　　Part 2: FIB-SEM method 2020-10-23發(fā) 布 2021-02-01實(shí) 施 國家能源局發(fā)布 SY/T 7410.2-2020 目 次 刖 青 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1 2規 范 性 引 用 文 件 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1