GB/T 42968.1-2023 集成電路 電磁抗擾度測量 第1部分：通用條件和定義 正式版

本文件定義了集成電路（IC）傳導和輻射騷擾電磁抗擾度測量的通用信息，描述了常規的試驗條件、試驗設備和布置、試驗程序和試驗報告內容。附錄A中給出了試驗方法的對照表，幫助選擇適當的測量方法。 標準號：GB/T 42968.1-2023 標準名稱(chēng)：集成電路電磁抗擾度測量第1部分：通用條件和定義 英文名稱(chēng)：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1:General conditions and definitions 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-01-01 引用標準：IEC 62132-3 IEC 62132-4 采用標準：IEC 62132-1:2015《集成電路電磁抗擾度測量第1部分:通用條件和定義》 IDT 等同采用 起草人：崔強、付君、喬彥彬、鄭益民、方文嘯、吳建飛、葉暢、李楠、朱賽、楊紅波、劉星汛、李金龍、張艷艷、白云、周香、劉小軍、黃雪梅、陳燕寧、邵鄂、萬(wàn)發(fā)雨、臧琦、劉佳、梁吉明、胡小軍、郭文明、張金玲、邢立文、張青青、張先利、陳梅雙 起草單位：中國電子技術(shù)標準化研究院、北京智芯微電子科技有限公司、浙江諾益科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、天津先進(jìn)技術(shù)研究院、廣州市誠臻電子科技有限公司、揚芯科技(深圳)有限公司、北京無(wú)線(xiàn)電計量測試研究所、上海市計量測試技術(shù)研究院、中國家用電器研究院、河南凱瑞車(chē)輛檢測認證中心有限公司、東南大學(xué)、深圳市北測標準技術(shù)服務(wù)有限公司、中國汽車(chē)工程研究院股份有限公司、北京芯可鑒科技有限公司、南京信息工程大學(xué)、中國信息通信研究院、中國合格評定國家認可中心、廈門(mén)海諾達科學(xué)儀器有限公司、蘇州泰思特電子科技有限公司、鄭州新基業(yè)汽車(chē)電子有限公司、北京郵電大學(xué)、南京容向測試設備有限公司、上海電器設備檢測所有限公司、中國電子科技集團公司第三十二研究所 歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會(huì )(SAC/TC 78)