GB/T 43226-2023 宇航用半導體集成電路單粒子軟錯誤時(shí)域測試方法 正式版

本文件規定了宇航用半導體集成電路單粒子軟錯誤時(shí)域測試的原理、環(huán)境條件、儀器設備、試驗樣品、試驗步驟、試驗報告。本文件適用于宇航用半導體集成電路單粒子軟錯誤的測試。 標準號：GB/T 43226-2023 標準名稱(chēng)：宇航用半導體集成電路單粒子軟錯誤時(shí)域測試方法 英文名稱(chēng)：Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-01-01 引用標準：GB 18871-2002 起草人：趙元富、陳雷、王亮、岳素格、鄭宏超、李哲、林建京、李永峰、陳淼、王漢寧 起草單位：北京微電子技術(shù)研究所、中國航天電子技術(shù)研究院 歸口單位：全國宇航技術(shù)及其應用標準化技術(shù)委員會(huì )(SAC/TC 425)