JJF 1682-2017 光柵式測微儀校準規范 Calibration Specification for Grating Micrometers

本規范適用于0.1μm級行程為0~10mm、0.2μm級行程為0~25mm、0.5μm級行程為0~50mm、1μm級～10μm級行程為0~100mm的光柵式測微儀校準。范 JJF 1682-2017 光柵式測微儀校準規范 Calibration Specification for Grating Micrometers 2017-11-20發(fā) 布 2018-05-20實(shí) 施 櫨？：J氣‘國家質(zhì)量監督檢驗檢疫總局發(fā)布 膏 、 ＼ ’ ， ；慕 護 、「 ： 渺 JJF 1682-2017 光 柵 式 測 微 儀 校 準 規 范 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 ！ JJF 1682-2017z 　 Calibration Specification for 　 　 　 Grating Micrometers 歸口單位：全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會(huì ) 主要起草單位：中國科學(xué)院光電技術(shù)研究所 中國測試技術(shù)研究院 參加起草單位：安徽省計量科學(xué)研究院 本規范委托全國幾何量工程參量計量技術(shù)委員會(huì )負責解釋 JJF 1682-