GB/T 42667-2023 精細陶瓷室溫等雙軸彎曲強度試驗方法 雙環(huán)法

本文件規定了室溫下采用雙環(huán)法測定精細陶瓷等雙軸彎曲強度試驗方法。 本文件適用于平均晶粒尺寸小于100 μm的單相陶瓷材料等雙軸彎曲強度的測定。 本文件也適用于各相平均晶粒尺寸（或長(cháng)度）均小于100 μm，顆粒、晶須和（或）非連續纖維增強的復相陶瓷等雙軸彎曲強度的測定。