GB/T 42706.2-2023 電子元器件 半導體器件長(cháng)期貯存 第2部分：退化機理

本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時(shí)間推移的退化機理和退化方式，以及評估一般退化機理的試驗方法。 通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預計貯存時(shí)間超過(guò)12個(gè)月的長(cháng)期貯存器件。 特定類(lèi)型電子元器件的退化機理在IEC 62435-5～IEC 62435-9中加以規定。