GB/T 42969-2023 元器件位移損傷試驗方法

本文件描述了元器件位移損傷的試驗方法。 本文件適用于光電集成電路和分立器件，如電荷耦合器件(CCD)、光電耦合器圖像敏感器(APS)、光敏管等，用質(zhì)子、中子進(jìn)行位移損傷輻照試驗。其他元器件的位移損傷輻照試驗參照進(jìn)行。