GB/T 42975-2023 半導體集成電路 驅動(dòng)器測試方法

本文件規定了半導體集成電路驅動(dòng)器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件）的電特性測試方法的基本原理和測試程序。 本文件適用于74/54系列驅動(dòng)器、總線(xiàn)驅動(dòng)器、PIN開(kāi)關(guān)驅動(dòng)器、達林頓驅動(dòng)器、時(shí)鐘驅動(dòng)器、LVDS驅動(dòng)器、MOSFET驅動(dòng)器和差分驅動(dòng)器等各種半導體工藝制造的驅動(dòng)器的電性能測試。 其他類(lèi)別驅動(dòng)器的測試參考使用。