GB/T 37254-2018 高純碳化硅 微量元素的測定 High purity silicon carbide—Determination of trace elements

本標準規定了采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP-OES）法和電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）法測定高純碳化硅中微量元素含量的方法。
本標準適用于碳化硅質(zhì)量分數含量大于或等于99.9％的高純碳化硅材料中鋁、砷、鈣、鉻、銅、鐵、汞、鉀、鎂、錳、鈉、鎳、鉛、硫、鈦、鋅等16種元素的測定。各元素的測定范圍見(jiàn)表1（以質(zhì)量分數計）。
 GB/T 37254-2018 高 純 碳 化 硅 微 量 元 素 的 測 定 High purity silicon carbide-Determination of trace elements 2018-12-28發(fā) 布 2019-09-01實(shí) 施 　　　　　　　　國家市場(chǎng)監督管理總局任告士 、 ， ， ， ，？ ？ 令 ＼中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會(huì ) 儀 ”p ＼ 嘉 熱 霸 GB/T 37254-2018 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 一 　 　 　 　 　 　 巨 前 本標準按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草 。 本標準由中國建筑材料聯(lián)合會(huì )提出 。 本 標 準 由 全 國 工 業(yè) 陶 瓷 標 準 化 技 術(shù) 委 員 會(huì ) （ SAC/TC 194） 歸 口 。 本標準起草單位：中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 、 寧波伏爾肯機械密封件制造有限公司 。 本 標 準 主 要