GB/T 35007-2018 半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry

本標準規定了半導體集成電路低電壓差分信號（LVDS,low voltage differential signaling）電路（以下稱(chēng)為“器件”）靜態(tài)參數、動(dòng)態(tài)參數測試方法的基本原理。
本標準適用于低電壓差分信號電路靜態(tài)參數、動(dòng)態(tài)參數的測試。GB/T 35007-2018 　　　半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 　 　 　 　 　 　 　 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 2018-03-15發(fā) 布 2018-08-01實(shí) 施 　 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監 督 檢 驗 檢 疫 總 局 去 眾 丫 、 村 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會(huì ) ‘ GB/T 35007-2018 目 次 刖 言 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 圍 ？...............