GB/T 40300-2021 微束分析  分析電子顯微學(xué)  術(shù)語(yǔ) Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Vocabulary 

本文件界定了在A(yíng)EM實(shí)踐中所用的術(shù)語(yǔ)。包含一般概念和特定概念的術(shù)語(yǔ)，按照系統順序中各自的層次分類(lèi)。
本文件適用于所有和AEM實(shí)踐相關(guān)的標準化文件。此外，本文件的某些部分適用于相關(guān)領(lǐng)域（如TEM，STEM，SEM，EPMA，EDX）通用術(shù)語(yǔ)的定義。
注：見(jiàn)ISO在線(xiàn)瀏覽平臺（OBP）；https;//www.iso.org/obp/ui/GB/T 40300-2021 微束分析分析電子顯微學(xué)術(shù)語(yǔ) Microbeam analysis-Analytical electron microscopy-Vocabulary (ISO 15932:2013, MOD) 2021-08-20發(fā) 布 2022-03-01實(shí) 施 愈 骰 霖 魏 籟 黷 欠 發(fā) 布 　刮涂層紅岌偽 GB/T 40300-2021 目 次 前 言 ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 土 引 言 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ n 1范 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？