GB/T 42208-2022 納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進(jìn)行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測量方法。本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測量和粒徑分析。本文件也適用于在樣品制備滿(mǎn)足透射電子顯微鏡觀(guān)察要求時(shí)的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑測量。