GB/T 18859-2016 封閉式低壓成套開(kāi)關(guān)設備和控制設備 在內部故障引起電弧情況下的試驗導則 Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies--Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault

本標準對成套設備由于內部故障在空氣中引起電弧情況下的試驗方法給予指導。 這一試驗的目的是評估成套設備限制由內部電弧故障引起人身傷害、成套設備損壞風(fēng)險和繼續使用適用性的能力。 本標準提供的試驗程序僅適用于： --符合GB 7251.12(成套電力開(kāi)關(guān)和控制設備PSC成套設備)的封閉式、落地式或壁掛式低壓成套開(kāi)關(guān)設備和控制設備。 注:本標準可作為其他產(chǎn)品電弧故障試驗的參考文件，但是考慮到其他成套設備或產(chǎn)品的特性，應調整試驗程序和驗收準則。 --成套設備的門(mén)和蓋板關(guān)閉并正確固定的情況。 當用戶(hù)和制造商就不同的或更惡劣情況下的試驗達成協(xié)議時(shí)，本標準可作為指導文件。 本標準給出的試驗程序應考慮： --作用在蓋板、門(mén)等上面的內部過(guò)壓力的影響； --電弧或弧根作用到外殼上的熱效應及噴射出的熱氣體和發(fā)光粒子的熱效應。 本標準給出的試驗程序不包含： --能構成危險的其他效應，如有毒氣體和噪聲； --維護工作期間、開(kāi)門(mén)或相似的情況； --接近成套設備頂部和底部。 該試驗是制造商自愿進(jìn)行的試驗。 GB/T 18859-2016/IEC/TR 61641:2014 　　　　　　　　　　　　　　代替GB/Z 18859-2002 封閉式低壓成套開(kāi)關(guān)設備和控制設備 　　在內部故障引起電弧情況下的 　 　 　 　 　 　 　 試 驗 導 則 Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies- Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault (IEC/TR 61641:2014,IDT) 2016-12-13發(fā) 布 2017-07-01實(shí) 施 　 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監 督 檢 驗 檢 疫 總 局 去 女 蠢 中 「 「 家 標 準 化 管 理 委 員 會(huì ) ‘ GB/T 18859-2016/IEC/TR 61641:2014 刖 言 　　本標準按照GB/T