GB/T 5095.2502-2021 電子設備用機電元件 基本試驗規程及測量方法 第25-2部分：試驗25b：衰減（插入損耗） Electromechanical components for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss) 

GB/T5095的本部分適用于電連接器、插座、電纜組件或互連系統。
本部分描述了測量作為頻率函數的衰減／插入損耗的頻域法和時(shí)域法。
注：本文件從始至終引用了“衰減”一詞。當按樣品和傳輸線(xiàn)類(lèi)型進(jìn)行測量的專(zhuān)業(yè)試驗人員總結和報告試驗測量結 果時(shí)，必須使用合適的術(shù)語(yǔ)（衰減或插入損耗）。 5095.2502-2021 /IEC 60512-25-2:2002 　電子設備用機電元件 基本試驗規程及測量方法 第25-2部分：試驗25b：衰減（ 插入損耗） Electromechanical components for electronic equipment- 　 　 Basic testing procedures and measuring methods- 　 　 Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss) [IEC 60512-25-2: 2002, Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-2: Test 25b: Attenuation(insertion loss), IDT] 2021-03-09發(fā) 布 2021-10-01實(shí) 施 妒 ， 。 。 ， ， 、 國家市場(chǎng)監督管理