GB/T 34002-2017微束分析 透射電子顯微術(shù) 用周期結構標準物質(zhì)校準圖像放大倍率的方法Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy- Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures  

本標準規定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質(zhì)具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點(diǎn)陣結構或X射線(xiàn)分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。
本標準適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數字相機內置傳感器采集的TEM圖像的放大倍率。本標準也可用于校準標尺，但不適用于專(zhuān)用的臨界尺寸測長(cháng)透射電鏡（CD-TEM）和掃描透射電鏡(STEM)。GB/T 34002-2017/ISO 29301:2010 微束分析透射電子顯微術(shù)用周期結 構標準物質(zhì)校準圖像放大倍率的方法 Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy- 　 Methods for calibrating image magnification by using reference 　 　 　 　 　 　 　 　 materials having periodic structures (ISO 29301: 2010,IDT) 2017-07-12發(fā) 布 2018-06-01實(shí) 施 　 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監 督 檢 驗 檢 疫 總 局 ‘ 疊 老 ， 、 嚴 、 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會(huì ) 儀 ”p 囔邋 ？ GB/T 34002-2017/IS029301:2010 目 次 前 言