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GB/T 41074-2021微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS GB/T 41074-2021微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

GB/T 41074-2021微束分析 用于波譜和能譜分析的粉末試樣制備方法Microbeam analysis—Method of specimen preparation for analysis of general powders using WDS and EDS

  • 標準類(lèi)別：[GB] 國家標準
  • 標準大?。?/li>
  • 標準編號：GB/T 41074-2021
  • 標準狀態(tài)：現行
  • 更新時(shí)間：2022-10-25
  • 下載次數：次
標準簡(jiǎn)介

本文件規定了使用安裝在電子探針(EPMA)或掃描電鏡(SEM)上的能譜儀(EDS)或波譜儀(WDS)分析粉末中的顆粒時(shí)的試樣制備方法。根據分析目的和顆粒尺寸,對粉末顆粒試樣的制備方法進(jìn)行了分類(lèi)。本文件適用于粒徑范圍在100nm~100μm的無(wú)機物顆粒。本文件不適用于一些特殊應用,如法醫分析或痕量分析。

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