GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method

  • 標準類(lèi)別:[GB] 國家標準
  • 標準大?。?/li>
  • 標準編號:GB/T 40279-2021
  • 標準狀態(tài):
  • 更新時(shí)間:2022-03-18
  • 下載次數:次
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GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的測試 光學(xué)反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method

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