JB/T 11606-2013 無(wú)損檢測儀器 金屬磁記憶檢測儀 性能試驗方法 JB/T 11606-2013 無(wú)損檢測儀器 金屬磁記憶檢測儀 性能試驗方法

JB/T 11606-2013 無(wú)損檢測儀器 金屬磁記憶檢測儀 性能試驗方法

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  • 更新時(shí)間:2020-04-25
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ICS 19.100N 77備案號: 44535--2014JB中華人民共和國機械行業(yè)標準JB/T 11606- -2013無(wú)損檢測儀器金 屬磁記憶檢測儀性能試驗方法Non-destructive testing instruments-Metal magnetic memory instrument verification2013-12-31發(fā)布2014-07-01實(shí)施中華人民共和國工業(yè)和信息化部發(fā)布JB/T 11606- -2013目.............................................................1范圍..3術(shù)語(yǔ)和定......... I4試驗條件5試驗項目6試驗設備........7試驗方法..7.1磁場(chǎng)測 最相對誤差試驗....7.2位 置測量相對誤差試驗7.4位置 分辨力試驗........7.5耐溢 試驗.7.6耐濕 試驗7.7運輸試驗....圖1磁記憶探頭小車(chē) 移動(dòng)軌道示意圖.表1耐溫耐濕試驗參 數..........JB/T 11606- -2013前言本標準按照GB/T 1.1 - 2009給 出的規則起草。本標準由中國機械T.業(yè)聯(lián)合會(huì )提出。本標準由全國試驗機標準化技術(shù)委員會(huì )(SACTC122)歸口。本標準起草單位:愛(ài)德森(廈門(mén))電子有限公司、遼寧儀表研究所、深圳華測檢測技術(shù)股份有限公司。本標準主要起草人:林俊明、李洪國、萬(wàn)峰、趙晉成、李寒林。本標準為首次發(fā)布。JB/T 11606- 2013無(wú)損檢測儀器金 屬磁記憶檢測儀性 能試驗方法1范圍本標準規定了金屬磁記憶檢測儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)儀器)的性能試驗方法。本標準適用」數字式金屬磁記憶檢測儀。2規范性引用文件下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注8期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T 12604.10無(wú)損檢測術(shù)語(yǔ)磁記憶檢測GB/T25480 2010 儀器儀表運輸、 貯存基本環(huán)境條件及試驗方法3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T 12604.10界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。4試驗條件儀器應在下列條件下正常工作:a)環(huán)境溫度-25C~55'C;b)相對濕度不大于80%: .c)電源電壓AC 220 V+ 10V: :d)電源頻率為50 Hz士1 Hz.5試驗項目?jì)x器試驗項目如下:a)磁場(chǎng)測量相對誤差:b)位置測量相對誤差;c)測量范圍:d)測量通道數量:e)增益;f)顯示方式;g)位置測量分辨力。6試驗設備試驗需要下列儀器儀表:。05級或伏05級的亦,吉流中床表和中流夷,JB/T 11606- -2013b)信號發(fā)生器:幅度誤差不大于2%,頻率誤差不大于0.1%;c)1級或優(yōu)于1級的千分表和扭簧比較儀:d)不低于50MHz雙蹤示波器;e)頻率計或頻譜分析儀。7試驗方法7.1 磁場(chǎng)測量相對誤差試驗磁場(chǎng)測量相對誤差試驗步驟如下:a)將儀器放置標準磁場(chǎng)Ho [單位為安每米(A/m)]中,標準磁場(chǎng)大小應在儀器磁場(chǎng)測量范圍之內:b)磁記憶數據校準設為“大地磁場(chǎng)”:c)將探頭歸- -化之后顯示的數值記錄為Hp [單位為安每米(Am)]。磁場(chǎng)測量的相對誤差計算方法見(jiàn)公式(1):(Hp- Ho)OHp =HoIx 100% ..................... (1)7.2位置測量相對誤差試驗位置測量相對誤差試驗步驟如下:a)磁記憶數據校準設為“大地磁場(chǎng)”。b)測長(cháng)計數顯示設為“開(kāi)”。c)將小車(chē)放置在帶有精確刻度的軌道上,軌道長(cháng)500mm,如圖1所示。沿著(zhù)軌道白刻度為0mm的地方開(kāi)始走動(dòng),當走到軌道500 mm的地方,記錄此時(shí)屏幕上顯示的測最長(cháng)度s [單位為毫米(mm)]。位置測量的相對誤差計算方法見(jiàn)公式(2): .(S- 500)AS=x 100% ....................... (2)5007.3 噪聲試驗噪聲試驗步驟如下:a)將儀器放置在磁屏蔽箱中: .c)將探頭歸一化之后,把探頭放置在與歸-化磁場(chǎng)方向 飛真的水平位置,則此時(shí)測出來(lái)的數值Hp就是磁記憶檢測的噪聲。7.4位置 分辨力試驗位置分辨力試驗步驟如下:b)測長(cháng)計數顯示設為“開(kāi)"。c)將小車(chē)放置在帶有精確刻度的軌道上,軌道長(cháng)500 mm,如圖↓所示。沿著(zhù)軌道自刻度為0 mm的地方開(kāi)始走動(dòng),當走到鋼真尺上L [單位為毫米(mm)]的位置時(shí),記錄采樣點(diǎn)數N。位置分辨力計算方法見(jiàn)公式(3):NJB/T 11606- -2013)500mm500,塵軍0一墊圖1磁記憶探頭小車(chē) 移動(dòng)軌道示意團7.5耐溫試驗7.5.1概述在進(jìn)行耐溫試驗時(shí),高、低溫箱內的溫度應保持恒定均勻,溫差不超過(guò)士3C,箱內空間至少應為被檢儀器的3倍。為防止濕度的影響,在不影響耐溫試驗的條件下,必要時(shí),宜采取對高、低溫箱密封或注入干燥空氣等措施。7.5.2高溫試驗將儀器放入高溫箱內,試驗參數見(jiàn)表1.高溫試驗后,使溫度降至室溫,取出儀器并在正常工作條件下放置24 h以上,再對儀器進(jìn)行性能試驗,其性能仍應滿(mǎn)足4.3.1.4.3.2 的要求。表1耐溫耐濕試驗參數溫度試驗濕度試驗高溫試驗低溫試驗試驗溫度保持時(shí)間升溫速度降溫速度相對濕度hC/min55=3≤I-25=3247.5.3低溫試驗將儀器放入低溫箱內,試驗參數見(jiàn)表1.低溫試驗后,使溫度升至室溫,使溫度升至室溫,取出儀器并在正常工作條件下放置24 h以上,再對儀器進(jìn)行性能試驗,其性能仍應滿(mǎn)足4.3的要求( 低溫試驗后,若儀器有凝水現象,應適當延長(cháng)預熱時(shí)間或采用風(fēng)扇通風(fēng)等其他方法迅速去潮)。7.6耐濕試驗耐濕性能的檢測萬(wàn)j法應按GB/T 25480- 2010 中4.4執行,試驗后再對儀器進(jìn)行性能試驗,其性能仍應滿(mǎn)足本標準4.3的要求。7.7 運輸試驗運輸性能的試驗項目和方法應按GB/T 25480- 2010 中第4章執行,試驗后再對儀器進(jìn)行性能試驗,其性能仍應滿(mǎn)足本標準4.3的要求。

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